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該設(shè)備利用背衍射法探測(cè)材料的晶體結(jié)構(gòu)，常用于單晶定向、測(cè)定晶體對(duì)稱性、表征晶體的成晶質(zhì)量等

8600系列VSM采用大量的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，在降低測(cè)量噪聲的同時(shí)提高了采樣速度

MCS-EMP多用途電磁鐵平臺(tái)提供了自動(dòng)化可變磁場(chǎng)實(shí)驗(yàn)所需的所有基本組件，包括兩種尺寸可選（4英寸/7英寸）的電磁體，兩種尺寸可選（2英寸/4英寸）的磁極帽和磁體底座、以及電磁體系統(tǒng)控制柜

低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置

根據(jù)樣品成分選擇不同頻率的探頭，來測(cè)試不同衰減系數(shù)的樣品

UMS高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)采用超聲回波分析法以無損的方式表征各種材料的力學(xué)性能

隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過程的時(shí)代

以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列

型號(hào)：DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺(tái)式設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)4Å（0.4nm）的優(yōu)異重復(fù)性，掃描速度可提高40%

DimensionFastScan原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計(jì)，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實(shí)現(xiàn)快速掃描