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IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀使用低能量Ar離子束，加工無(wú)應(yīng)力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、異物解析、層厚測(cè)量等提供有效的樣品前處理方法

PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對(duì)工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制

AutoMet系列研磨拋光機(jī)專(zhuān)為嚴(yán)苛的生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境而設(shè)計(jì)

VibroMet2振動(dòng)拋光機(jī)可通過(guò)幾乎水平方向的振動(dòng)，搭配MasterMet2二氧化硅拋光液使用，可去除樣品表面機(jī)械化制樣后殘留的細(xì)微變形層，從而得到高質(zhì)量的拋光表面，而不必使用電解拋光制備所必需的危險(xiǎn)電解液

凹坑研磨儀預(yù)先切薄以接近電子透明度的快速可靠的機(jī)械方法，可顯著減少離子研磨時(shí)間和薄度不均現(xiàn)象。